Q1.使用微電阻計RM3544測量保險絲的電阻。開始測量后電阻值慢慢下降。請問是什么原因？

A.可能是以下原因。

1.溫度的影響
微電阻計RM3544通過使用4端子測量方法流動恒定電流來測量。熱量可能隨著時間的推移而變化，并且電阻可能根據(jù)周圍環(huán)境（例如室溫和空調(diào)等）而改變。
2.接觸狀態(tài)的影響
連接測量探頭（測試線）時，壓力可能會發(fā)生變化。 例如，當對被測物的接觸壓力上升（適應）時，電阻值可能會減小。
3.氧化膜的影響
根據(jù)被測物，通過測量電流去除表面的氧化膜，并且電阻值可能會變低。

Q2.希望延長電阻計RM3545用夾型測試線的分叉部分，請問可以嗎？

A.如果切斷綁扎Hi端電纜和Lo端電纜的管子，則分叉部分會變長。電纜的延長也可以用半標準產(chǎn)品制造，所以請另外咨詢。

適用產(chǎn)品（主機）： RM3544、RM3545、BT3562、BT3563等
夾型測試線：L2101、L2107

Q3.電阻計的直流電阻測量和LCR測試儀的直流電阻測量有什么區(qū)別？

A.基本測量原理是相同的，都是施加直流信號測量電阻。

LCR測試儀是輸出固定電壓進行測量，也有可以任意設置施加到被測物上的電壓值、電流值。

而電阻計是根據(jù)測量量程施加恒電流進行測量的。

相比比LCR測試儀，可以施加更大的電流，因此能夠穩(wěn)定測量低電阻（mΩ）。

Q4.請告知電阻測試儀的測量原理

A.在被測物上施加電源I，電阻R與其電阻R產(chǎn)生電壓V。

這是R=V/I的關系。通過這個關系式求出電阻R。

電阻計有3種測量方式，分別是：

在測試物上施加電流的方式（CC:Constant Current）、

在測試物兩端施加電壓的方式（CV:Constant Voltage）

設置在測試儀的輸出阻抗和測試物的串聯(lián)連接的兩端施加電壓的方式。

HIOKI的電阻計是CC方式。高阻計是CV方式，LCR測試儀根據(jù)機型可選3種方式。

Q5.針型探頭的調(diào)零在電阻值小的銅板上做不行嗎？

A.針型探頭的調(diào)零請使用調(diào)零板9454。

銅板是金屬，根據(jù)測量位置不同帶有微小的電阻值。

這個值會成為測量值的誤差。

Q6.要將電阻計組裝到自動設備中，所以想要自制測試探頭，有什么注意事項嗎？

A.測試線的電纜部分已進行屏蔽，用戶自制額實現(xiàn)時請注意下述事項。

請進行屏蔽（和SOURCE-L連接）。

線長控制在5m以內(nèi)。（線材的電阻在100mΩ/m以內(nèi)）

使用電阻計3541時，在20mΩ量程和200mΩ量程(測試電流1A)下，SOURCE端子的往返電阻值請控制在300mΩ內(nèi)。

9287-10的夾子部分分開使用的情況下，請注意不要讓SOURCE-Hi、SENCE-Hi、SENCE-Lo的屏蔽線接觸芯線。

Q7.電阻計有直流式和交流式的。兩者的區(qū)別是什么？

A.直流方式還是交流方式，是要根據(jù)測量對象來選擇合適的方法。關于各個優(yōu)缺點請參考表格。

直流式和交流式的區(qū)別