Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀

簡(jiǎn)介

Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀使用 4200A-SCS參數(shù)分析儀（參數(shù)測(cè)試儀）加快各類材料、半導(dǎo)體器件和*工藝的開(kāi)發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能領(lǐng)xian電學(xué)特性參數(shù)分析儀，提供同步電流電壓曲線測(cè)試 (I-V曲線測(cè)試)、電容-電壓曲線測(cè)試 (C-V曲線測(cè)試) 和超快脈沖 I-V曲線測(cè)量。

Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀

特點(diǎn)

參數(shù)查看，快速清晰。

推進(jìn)大膽發(fā)現(xiàn)從未如此容易。4200A-SCS 參數(shù)分析儀從設(shè)置到運(yùn)行檢定測(cè)試的時(shí)間減少高達(dá) 50％，從而實(shí)現(xiàn)無(wú)與lun比的測(cè)量和分析能力。此外，嵌入式測(cè)量專業(yè)知識(shí)提供無(wú)與lun比的測(cè)試指導(dǎo)，并讓您對(duì)z終結(jié)果充滿信息。

特點(diǎn)

• 用于 DC IV、CV 和脈沖 IV 測(cè)量類型的高級(jí)測(cè)量硬件

• 立即使用 Clarius 軟件中所含的數(shù)百種用戶可修改應(yīng)用程序測(cè)試開(kāi)始測(cè)試

• 自動(dòng)實(shí)時(shí)參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù)

準(zhǔn)確的 C-V 表征

使用吉時(shí)利新的電容-電壓?jiǎn)卧?(CVU) 4215-CVU 測(cè)量一位數(shù)飛法。通過(guò)將 1 V AC 電源集成到吉時(shí)利行業(yè)領(lǐng)xian的 CVU 架構(gòu)中，4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的頻率下進(jìn)行低噪聲電容測(cè)量。

特點(diǎn)

• 同類產(chǎn)品中shou款能夠驅(qū)動(dòng)1 V AC 電源電壓的 CV 表

• 1 kHz 頻率，分辨率從1 kHz 到 10 MHz

• 測(cè)量電容、電導(dǎo)和導(dǎo)納

• 使用 4200A-CVIV 多路開(kāi)關(guān)z多可測(cè)量四個(gè)通道

測(cè)量、 切換、 重復(fù)。

4200A-CVIV 多通道切換模塊自動(dòng)在 I-V 和 C-V 測(cè)量之間切換，無(wú)需重新布線或抬起探頭端部。 與競(jìng)爭(zhēng)產(chǎn)品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測(cè)試設(shè)置，并在出現(xiàn)意想不到的結(jié)果時(shí)輕松排除故障。

特點(diǎn)

• 無(wú)需重新布線即可將 C-V 測(cè)量移動(dòng)到任何設(shè)備終端

• 用戶可配置低電流功能

• 個(gè)性化輸出通道名稱

• 查看實(shí)時(shí)測(cè)試狀態(tài)

穩(wěn)定的低電流測(cè)量，適用于 I-V 檢定

使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊，您可以在高電容系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的低電流測(cè)量。4200A-SCS 有四種型號(hào)的源測(cè)量單位 (SMU) 可供選擇，可通過(guò)定制滿足您所有的 I-V 測(cè)量需求。通過(guò)提供現(xiàn)場(chǎng)可安裝單元和可選的預(yù)放大器模塊，Keithley 可確保您獲得z準(zhǔn)確的低電流測(cè)量，而停機(jī)時(shí)間很少甚至沒(méi)有。

特點(diǎn)

• 不必將儀器送回工廠即可增加 SMU

• 進(jìn)行 飛安測(cè)量

• 多達(dá) 9 個(gè) SMU 通道

• 針對(duì)長(zhǎng)電纜或大卡盤進(jìn)行了優(yōu)化

帶分析探測(cè)器和低溫控制器的集成解決方案

4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動(dòng)和半自動(dòng)晶片探測(cè)器和低溫控制器，包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

特點(diǎn)

• “點(diǎn)擊"測(cè)試定序

• “手動(dòng)"探測(cè)器模式測(cè)試探測(cè)器功能

• 假探測(cè)器模式無(wú)需移除命令即可實(shí)現(xiàn)調(diào)試

降低成本并保護(hù)您的投資

吉時(shí)利保障計(jì)劃以按需服務(wù)事件的一小部分成本提供快速、高質(zhì)量的服務(wù)。

生物傳感器檢定

生物傳感器或 bioFET 將對(duì)分析物的生物響應(yīng)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。集成到 4200A-SCS 中的 Clarius 軟件包括一個(gè)用于測(cè)試 bioFET 的項(xiàng)目。以此為起點(diǎn)檢定生物傳感器的傳輸和輸出特性，并從這里展開(kāi)工作。

飛法電容測(cè)量

使用 4215-CVU 模塊測(cè)量亞毫微微法拉電容。通過(guò)驅(qū)動(dòng) 1 V AC，在測(cè)量 1 fF 電容器時(shí)，4215-CVU 的噪聲水平可低至 6 attofarad。這只是 Clarius 軟件隨附的用于測(cè)量電容和提取重要參數(shù)的數(shù)十種應(yīng)用程序之一。

特點(diǎn)

• 內(nèi)置飛法測(cè)量功能

• 從 1kHz 到 10MHz 的 10,000 個(gè)頻率步進(jìn)

• 使用用戶庫(kù)定制任何設(shè)備的任何測(cè)試

半導(dǎo)體和 NVM 可靠性

通過(guò)全面脈沖 I-V 檢定在測(cè)試中利用新技術(shù)。 4200A-SCS 為新 NVRAM 技術(shù)提供支持和即用型測(cè)試，從浮動(dòng)門電路閃存到 ReRAM 和 FeRAM，不一而足。 電流和電壓雙源和測(cè)量功能同時(shí)支持瞬態(tài)和 I-V 域檢定。

提供適合高阻抗應(yīng)用的 C-V 測(cè)量功能

采用 Keithley 的自定義極低頻 C-V 技術(shù)分析高電阻樣本的電容。 該技術(shù)可通過(guò)僅使用源測(cè)量單元 (SMU) 儀器實(shí)現(xiàn)應(yīng)用，同時(shí)可與 4210-CVU 結(jié)合使用，執(zhí)行更高頻率測(cè)量。

特點(diǎn)

• .01 ~ 10 Hz 頻率范圍，1 pF ~ 10 nF 靈敏度

• 3? 位典型分辨率，z小典型值 10 fF

使用長(zhǎng)電纜或電容式夾具時(shí)進(jìn)行測(cè)試

當(dāng)測(cè)試需要非常長(zhǎng)的電纜或具有較高電容的夾具時(shí)，請(qǐng)使用 4201 或4211-SMU。這些 SMU 非常適合連接 LCD 測(cè)試站、探測(cè)器、開(kāi)關(guān)矩陣或任何其他大型或復(fù)雜的測(cè)試儀?，F(xiàn)場(chǎng)可安裝版本使您無(wú)需將設(shè)備返回服務(wù)中心即可增加容量。

材料電阻率

使用集成了 SMU 的 4200A-SCS，可通過(guò)四點(diǎn)同軸探頭或范德堡法輕松測(cè)量電阻率。 內(nèi)含測(cè)試可自動(dòng)重復(fù)執(zhí)行范德堡計(jì)算，節(jié)省您寶貴的研究時(shí)間。 10aA 的z大電流分辨率和大于 10----16 歐姆的輸入阻抗可提供更準(zhǔn)確和精準(zhǔn)的結(jié)果。

MOSFET 檢定

4200A-SCS 可容納所有必要的儀器，用于通過(guò)組件或晶圓測(cè)試執(zhí)行全面的 MOS 設(shè)備檢定。 內(nèi)含測(cè)試和項(xiàng)目可以解決 MOSCap 的氧化物厚度、門限電壓、摻雜濃度、移動(dòng)離子濃度等問(wèn)題。 只需觸摸一個(gè)儀器盒中的按鈕，即可運(yùn)行所有這些測(cè)試。