日置絕緣電阻測(cè)試儀ST5520

簡(jiǎn)要描述：日置絕緣電阻測(cè)試儀ST5520實(shí)現(xiàn)了“高速“絕緣電阻檢查，任意設(shè)置試驗(yàn)電壓值（25～1000V（1V分辨率）設(shè)置），快速釋放殘留電壓

產(chǎn)品型號(hào)：
廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商
更新時(shí)間：2024-03-21
訪(fǎng) 問(wèn) 量：1383

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安規(guī)測(cè)試儀

接地保護(hù)測(cè)試儀泄漏電流測(cè)試儀絕緣電阻測(cè)試儀絕緣耐壓測(cè)試儀

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詳細(xì)介紹

品牌	HIOKI/日本日置	產(chǎn)地類(lèi)別	進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域	能源,電子,航天,汽車(chē),電氣

日置絕緣電阻測(cè)試儀ST5520

特點(diǎn)

實(shí)現(xiàn)了"高速"絕緣電阻檢查

● 最快50ms的高速判斷

● 快速釋放殘留電壓

● 任意設(shè)置試驗(yàn)電壓值（25～1000V（1V分辨率）設(shè)置）

● 接觸檢查功能（防止由于接觸不良造成的誤判斷）

● 短路檢查功能（防止不合格品流入市場(chǎng)）

主機(jī)無(wú)法單獨(dú)測(cè)量。請(qǐng)根據(jù)測(cè)量目的另外購(gòu)買(mǎi)測(cè)試線(xiàn)。

日置絕緣電阻測(cè)試儀ST5520

基本參數(shù)

測(cè)試項(xiàng)目	絕緣電阻（直流電壓施加方式）
測(cè)試電壓/測(cè)量量程（手動(dòng)/自動(dòng)）	25 V ≦ V < 100 V (2.000/20.00/200.0 MΩ), 100 V ≦ V < 500 V (2.000/20.00/200.0/2000 MΩ), 500 V ≦ V ≦ 1000 V (2.000/20.00/200.0/4000/9990 MΩ)
基本精度	±2 % rdg. ±5 dgt. 25 V ≦ V < 100 V [0～20 MΩ], 100 V ≦ V < 500 V [0～20 MΩ], 500 V ≦ V ≦ 1000 V [0～200 MΩ]
測(cè)試速度	FAST：30ms/次，SLOW：500ms/次（切換）
顯示屏	LCD (壽命100,000小時(shí)),背光燈4階段
存儲(chǔ)功能	保存內(nèi)容：額定測(cè)量電壓、比較器上下限值、測(cè)試模式、判定時(shí)蜂鳴音、測(cè)試時(shí)間、響應(yīng)時(shí)間、電阻量程、測(cè)量速度存儲(chǔ)數(shù)：最多10組（可保存/讀?。?/p>
測(cè)試模式	連續(xù)模式、PASS STOP模式、FAIL STOP模式、強(qiáng)制結(jié)束時(shí)判定模式（切換）
比較設(shè)置	UPPER_FAIL：測(cè)量值≧上限值 PASS：上限值＞測(cè)量值＞下限值 LOWER_FAIL：測(cè)量值≦下限值
判定處理	蜂鳴音、PASS/U.FAIL/L.FAIL 的LED 燈亮，UL_FAIL時(shí)U.FAIL/L.FAIL同時(shí)燈亮，EXT. I/O 輸出、通過(guò)RS-232C獲取判定結(jié)果
試驗(yàn)時(shí)間計(jì)時(shí)器	0.045 s ～ 999.999 s（0.001 s 分辨率），從施加電壓到判定合格與否的時(shí)間
響應(yīng)時(shí)間計(jì)時(shí)器	試驗(yàn)開(kāi)始后，禁止按照0.005 s ～ 999.999 s（0.001 s 分辨率）設(shè)置比較器判定動(dòng)作的時(shí)間
模擬輸出	DC +4 V f.s.
接口	RS-232C（標(biāo)配），外部I/O（外部控制器用輸入，判定結(jié)果輸出），BCD輸出（僅限ST5520-01）
電源	AC100 V ～ 240 V，50/60Hz，最大25VA
體積及重量	215W×80H×166Dmm，1.1kg
附件	使用說(shuō)明書(shū)×1、電源線(xiàn)×1、EXT.I/O連接器×1、連接器蓋×1